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测验手册仅仅保存了举措一中的真差分TDR测试描绘

时间:2019-05-27来源:未知 作者:admin点击:
为了升高传输速度和传输隔绝,阴谋机行业和通讯行业越来越众的采用高速串行总线。正在芯片之间、板卡之间、背板和生意板之间实行高速互联。这些高速串行总线、LVDS以及FireWire1394的几百Mbps到此日的PCI-Express G1/G2、SATA G1/G2 、XAUI/2XAUI、XFI的几个

  为了升高传输速度和传输隔绝,阴谋机行业和通讯行业越来越众的采用高速串行总线。正在芯片之间、板卡之间、背板和生意板之间实行高速互联。这些高速串行总线、LVDS以及FireWire1394的几百Mbps到此日的PCI-Express G1/G2、SATA G1/G2 、XAUI/2XAUI、XFI的几个Gbps以至10Gbps。阴谋机以及通讯行业的PCB客户对差分走线的阻抗驾驭请求越来越高。这使PCB坐蓐商以及高速PCB策画职员所面对的亘古未有的离间。本文连接PCB行业公认的测试规范IPCTM-650手册,中心商讨真差分TDR测试方式的道理以及特色。

  IPC-TM-650测试手册是一套相当所有的PCB行业测试外率,从PCB的呆滞个性、化学个性、物理个性、电气个性、境遇个性等各方面给出了相当详明的测试方式以及测试请求。个中PCB板电气个性请求正在第2.5节中描写,而个中的2.5.5.7a,则所有的先容了PCB特质阻抗测试方式和对相应的测试仪器请求,中心席卷单端走线和差分走线的阻抗测试。

  IPC-TM-650测试手册是一套相当所有的PCB行业测试外率,从PCB的呆滞个性、化学个性、物理个性、电气个性、境遇个性等各方面给出了相当详明的测试方式以及测试请求。正在以往的IPC-TM-650手册中,对PCB差分TDR测试的请求较为宽松。手册中容许测试者按照TDR测试筑造的境况利用两种分别的方式。

  方式二:当测试者没有差分TDR测试筑造时,测试筑造正在差分走线(A线与B线)时,先正在A线上打出阶跃信号,测试A阶跃信号正在A线上的反射个性记作AA,同时测出A阶跃信号正在B线上的感触信号,记实为BA。随后,正在B线上打出阶跃信号,测试B阶跃信号正在B线上的反射个性记作BB,同时测出B阶跃信号正在A线上的感触信号,记实为AB。通过对得回的AA、AB、BB、BA四个数值举行阴谋可能得出差分走线的阻抗。该方式又叫做“Super-Position”。

  不过正在(2004年3月版)IPC-TM-650手册中,仅仅保存了方式一中的真差分TDR测试描写。而不再有方式二的“伪差分”TDR测试方式的描写。

  从此外一个角度来探求,TDR筑造的体系带宽控制了TDR测试的辨别率。正在IPC-TM-650测试手册中对TDR筑造的上升光阴是依据体系上升光阴(tsys)来界说的。当咱们要衡量一台TDR筑造的体系上升光阴时,咱们可能短道一台TDR筑造的输出,此时可能测出该TDR筑造的(tsys)(上升光阴以及低浸光阴)。比方图3的TDR筑造的体系上升光阴就高达28ps阁下。

  为了简单测试者理会TDR测试的辨别率以及PCB板走线的最小测试长度,正在IPC-TM-650测试手册的外4-1(图5)中给出了速查数据。

  当传输线上产生阻抗不相接的景色时,正在阻抗蜕变的地方阶跃信号就会爆发反射的景色,若是将反射信号举行取样并显示正在示波器的屏幕上,就会得出如图2所示的波形,从波形中咱们可能看出一条被测试的传输线正在分别场所上的阻抗蜕变。同时咱们可能较量图2中的两个波形。这是利用两台辨别率分别的TDR筑造正在测试统一条传输线时得回的测试结果。关于传输线阻抗蜕变的反应一个分明而另一个不分明。TDR筑造感知传输线阻抗不相接的辨别率取决于TDR筑造所发出的阶跃信号上升光阴的速慢,上升光阴速所得回的辨别率就高。而TDR筑造的上升光阴往往和测试体系的带宽慎密合系,带宽高的测试体系有更速的上升光阴。

  方式一:当测试者具有差分TDR测试筑造时,测试筑造同时打出两个幅度相当、目标相反的阶跃脉冲,并通过这对差分信号的互相感化直接测出差分走线的阻抗。

  图1是一个阶跃信号正在传输线(如PCB的走线)上传输时的示贪图。而传输线是通过电介质与GND分开的,就像众数个轻微的电容的并联。电信号抵达某个场所时,就会令该场所上的电压爆发蜕变,就像是给电容充电。以是,传输线正在此场所上是有对地的电流回道的,以是就有阻抗的存正在。不过该阻抗唯有阶跃信号自己智力“觉得到”,这便是咱们所说的特质阻抗。

  图4是另一台TDR筑造的体系上升/低浸光阴的测试结果,体系的上升/低浸光阴正在38ps~40ps之间。可睹分别的TDR筑造正在体系上升/低浸光阴上是有很大的区其它,由此带来的便是传输线阻抗测试辨别率的很大分别。

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